Ersatzschaltung P250
Vorteil der Messungen mit den Probes der Langer EMV-Technik

Bei der Störfestigkeitsmessung mit der Probe P250 kann jedes einzelne IC-Pin (z.B. QFP, QFN Packages) oder auch die Balls eines BGA individuell kontaktiert und mit Pulsen beaufschlagt werden.
Die Messung entspricht dem Standard IEC 62215-3, wobei die normalerweise am Pin verschalteten Netzwerke (CK) zur Einkopplung der Störpulse in der jeweiligen Probe enthalten sind. Aufgrund des einfachen Wechsels des Koppelnetzwerkes durch den Austausch der Probe-Spitze wird die Anwendung noch flexibler.

Was wird vom Kunden benötigt?
  • Datenblatt des IC
  • Test-Schaltplan (in Abstimmung mit Testingenieur)
  • Test-Firmware mit Beschreibung (in Abstimmung mit Testingenieur)
  • 5 - 10 ICs mit Test-Firmware
Was bekommt der Kunde?
  • 10 Testleiterkarten, bestückt/unbestückt, je nach Anzahl der Test-ICs
  • Dokumentation der Messergebnisse
  • Testbericht (Test Report - EFT Test)

Die Erstellung eines Angebots hängt von der genauen Messaufgabe (z.B. Anzahl der Pins, Frequenzbereich, Schrittweite) des Kunden ab. Bitte setzen Sie sich mit dem Vertrieb der Langer EMV-Technik GmbH in Verbindung.