ICS 105 set

四轴定位IC扫描仪

ICS 105型集成电路扫描仪，可对集成电路和小型组件进行高频近场测量。根据使用的探头情况，可在 (50x50x50) mm 的空间范围内对磁场或电场进行测量，并在电脑上显示测量结果。此外，探头可自动旋转以确定磁场的准确方向。 可单独订购的 ICR 型近场微探头适用于 1.5MHz 至 6GHz 频率范围内的测量，空间分辨率可达 50μm。

FLS 106 IC set

四轴定位IC扫描仪

FLS 106型IC扫描仪可以在电子组件的集成电路上方，借助ICR-近场微探头对频率在6GHz以内的高频磁场或电场进行高分辨率（50-100µm）测量。 使用近场探头和带有SH 01探头支架的场源 使用ICR-探头（旋转单元） 工作状态下对集成电路的采样 四轴定位系统 可提供一个扫描台 GND/CB 和附件随后交付 顾客进行测试时用到的其他附件在协商后也包含在供货范围内。