Fault Injection
The ICI and ICI-DP probes allow for inject fast, transient magnetic or electric fields as well as current pulses into ICs. They are intended to use for electromagnetic fault injection (EMFI) or body biasing injection (BBI).
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ICI-DP HH150-15 set
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ICI-DP HH250-15 set
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ICI-DP HH500-15 set
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ICI-DP HH1000-15 set
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ICI HH500-15 L-EFT set
脉冲磁场源 SMA
ICI HH500-15 L-EFT是一个磁场源，可以布置在受测集成电路（开放式芯片）的上方。它能够产生快速瞬变脉冲（<2ns的上升时间）。通过测量磁场源实现对脉冲的监测。
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ICI I900 L-EFT set
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ICI E450 L-EFT set
SMA
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ICI 03 L-EFT set
集成电路Langer电磁脉冲耦合 SMA
Preview for 2017 ICI 01 L-EFT磁场源将快速瞬变脉冲通过磁场耦合到集成电路中（开放式芯片），因此可以选择性地对集成电路的某个区域进行抗干扰性测试。对于安全关键电路，还可以进行模拟旁路通道干扰。该探头具备以下特点： · 分辨率高达500微米，因此可以对电路中的某一部分有针对性地进行测试。 · 脉冲抖动的触发值极低，因此也能对程序进程中的快速过程有针对性地施加影响。 使用该探头需要一台电脑。通过附带的ICI-Client客户端软件或者DLL控制操作ICI 01探头。