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Langer EMV-Technik in scientific research
资讯
10 P512 and DPI
09Surface Scan on IC Level with high Resolution
08 ESD and Efficient Electronic Design
07 EMC Measurement Technology for Testing Integrated Circuits - An Introduction
06 Measuring the Shielding Effectiveness at IC Level with the IC Test System P1402/P1502
05 Time and cost savings when recording and documenting RF measurements with a spectrum analyzer
04 Radiated Emissions at the PCB Level - An Introduction
03 消除脉宽调制 (PWM) 直流电机的电磁骚扰
使用朗格尔(Langer EMV-Technik GmbH)近场探头实现至6 GHz的测量
01 EMC实用技巧和建议 如何使用近场探头抑制LVDS连接的干扰
视频
产品用途
研讨会
印刷电路板的抗干扰性
抗干扰开发系统
E1 set
E1抗干扰开发系统
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E1 磁场探头
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配件(猝发 / 电快速瞬变脉冲发生器 IEC 61000-4-4)
光信号传输
猝发脉冲序列探测器
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MSA 02, 磁场探头(有源)
05R white, 用于测量系统分析第二阶段(MSA 02)的探头
05R white
用于测量系统分析第二阶段(MSA 02)的探头
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Application 05R
Short description
05R 型探头用于组装件表面的猝发磁场的测量。特别适合强度测量以及集成电路附近的猝发磁场的空间定向。该探头为白色,线轴开口用黑点来标志。
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