Mini-Burstfeldgeneratoren

Anwendungsvideo zu Mini-Burstgeneratoren des P1 set. Die Burstgeneratoren dienen entwicklungsbegleitenden EMV-Untersuchungen von Flachbaugruppen. 3:19 min

Zum Produkt: P1 set - Mini-Burstfeldgeneratoren

Zusammenfassung

Die Feldquelle der Mini-Burstfeldgeneratoren erzeugen ESD oder Burst-ähnliche impulsförmige Felder, die auf wenige Quadratmillimeter begrenzt sind.Ein entscheidender Vorteil vom Set P1 ist: Die EMV-Messgeräte sind klein und handlich. Die Mini-Burstfeldgeneratoren sind stiftförmig und können von Hand mit ihren feldabgebenden Spitzen, Feldquelle, dicht über den Prüfling, Flachbaugruppe, geführt werden. Damit können auf Flachbaugruppen gezielt GND oder Vcc- Strukturen, einzelne Leiterzüge bzw. IC beaufschlagt und anhand von Funktionsfehlern Schwachstellen ermittelt werden. Die Intensität der Störgröße ist stufenlos am EMV-Messgerät MINI-Burstgenerator verstellbar. Dadurch werden die EMV-Messungen von Schwachstellen auf der untersuchten Flachbaugruppe untereinander vergleichbar und die Wirksamkeit von EMV-Maßnahmen zur Störfestigkeit der Baugruppe überprüfbar. Die Trennung von magnetischer Einkopplung, B-Pulser P11, und elektrischer Einkopplung, E-Pulser P21, ermöglicht eine Unterscheidung magnetischer und elektrischer Schwachstellen. Mit dem Empfindlichkeitstester, P12, kann die Empfindlichkeit von IC-Eingängen und Leiterzügen getestet werden.

Hier die einzelnen Pulser im Überblick:

B-Pulser Typ P11 ist ein Schwachstellentester. Er erzeugt an seiner Spitze kleinräumiges strahlförmiges magnetisches Feld zum Lokalisieren B-feldsensibler Schaltungsbereiche. Die Magnetfeldquelle erzeugt einen sehr feinen aus der Sondenspitze austretenden B-Feldstrahl, Durchmesser kleiner als 1mm. Sie ist für die Lokalisierung flächiger und punktförmiger Schwachstellen geeignet. Mit dem Feldstrahl wird die Oberfläche von Leiterkarten und Bauteilen abgetastet. Der kleine Durchmesser und die scharfe Bündelung des Strahls ermöglichen eine hohe Auflösung. Kritische Leiterzugabschnitte, Bauteile und Bauteilanschlüsse sind lokalisierbar.

B-Pulser Typ P12 ist ein Empfindlichkeitstester. Er erzeugt an seiner Spitze ein kreisförmiges magnetisches Feld mit dem einzelne Leiterzüge oder IC-Pin umfasst werden können. Die Magnetfeldquelle erzeugt ein winziges kreisförmiges Pulsmagnetfeld im Millimeterbereich. Sie kann als Mini-Koppelzange zur selektiven Störstrom- und Störspannungseinkopplung auf einzelne Leiterzüge, IC-Pin´s, SMD-Bauelemente und dünne Leitungen z.B. Flachbandkabel aufgesetzt werden. Eine Baugruppe oder Prüfling, hat oft einen Großteil unempfindliche und wenige empfindliche Signalverbindungen: Leiterzüge, IC-Pin. Die empfindlichen Elemente lassen sich mit der Feldquelle schnell herausfinden und durch entsprechende Layoutänderungen störfest konstruieren.

E-Pulser Typ P21 ist ein Schwachstellentester. Er erzeugt an seiner Spitze ein kleinräumiges strahlförmiges elektrisches Feld zum Lokalisieren E-feldsensibler Schaltungsbereiche. Die E-Feldquelle besitzt einen schmalen linienförmigen Kopf und ist für Schwachstellensuche im Leiterzug- und Bauteilbereich von Baugruppen vorgesehen. Sie eignet sich für E-Feldeinkopplung auf Leiterzüge, Drähte, Pin's und Bauteile; insbesondere auf einzelne SMD-Bauelemente wie Widerstände und Kondensatoren. Die Sonde wird zur E-Feldeinkopplung mit dem linienförmigen Kopf auf einzelne Leiterzüge SMD- oder bedrahtete Bauteile aufgesetzt. Einzelne Steckkontakte und einzelne Adern von Flachbandkabeln lassen sich ebenfalls untersuchen.

Mit den Mini-Burstfeldgeneratoren sind Normprüfungen nicht ausführbar. Zur Ermittlung von Norm-störfestigkeitswerten sind Messungen an Normprüfplätzen erforderlich. Mit dem Set P1 kann der Entwickler am Arbeitsplatz schon Schwachstellen lokalisieren und beseitigen, die dann bei einer Normprüfung nicht weiter zu Problemen führt. Auch nach einer nicht bestandenen Normprüfung, kann der Entwickler anhand des Fehlerbildes aus der Normprüfung die entsprechenden Schwachstellen auf der Baugruppe ausfindig machen und EMV Gegenmaßnahmen direkt prüfen.Um bei entwicklungsbegleitenden Untersuchungen den Stand zur nach Norm definierten Störfestigkeit herzustellen, empfiehlt es sich, stichprobenartig mit Normstörgrößen Vergleichsmessungen auszuführen.

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