Meilensteine

Die Langer EMV-Technik GmbH entwickelt Messgeräte für entwicklungsbegleitende EMV-Analysen während der Baugruppenentwicklung (PCB) und IC-Entwicklung (IC).

2015
Entwicklung des IC-Testautomaten ICT1
2015
Frequenzerweiterung bis 10 GHz der Produktgruppe Nahfeldsonden
2012
Erweiterung des analogen Messsystems A300 bis 5 MHz Bandbreite
2010
Frequenzerweiterung bis 6 GHz der Produktgruppe Nahfeldsonden
2009
Zertifizierung der Firma als Träger der Beruflichen Weiterbildung
2008
Markteinführung von ESD-Feldquellen für den IC-Test
2008
Neue ICR Nahfeldmikrosonden für IC-Scanner bis 6 GHz mit einem Innendurchmesser von 100 µm
2007
Markteinführung des IC-Scanners mit der Software ChipScan-Scanner
2006
Erweiterung des analogen Messsystems A200 bis 500 kHz Bandbreite
2005
Markteinführung der ICR Nahfeldmikrosonden mit einem Innendurchmesser von 150 µm
2003
Vorstellung des EMV IC Test-Systems für die HF-gerechten Messungen von Strom und Spannung und Einspeisung der Burstströme und -spannungen in separate Pins.
2002
Markteinführung des Entwicklungssystems Störaussendung ESA1
2001
Forschungsarbeit über Störaussendungsprobleme der Automobil-Elektronik
2000
Produktion der ersten analogen Messsysteme A100
1998
Magnetfeldquellen und E-Feldquellen für Burstgeneratoren nach EN 61000-4-4, Markteinführung der ersten RF-Nahfeldsonden
1997
Entwicklung der ersten digitalen optischen Messsysteme OSE
1996
Markteinführung des Entwicklungssystems Störfestigkeit E1
1994
Forschung zum technologischen Schutz von Baugruppen vor Burststörgrößen
1993
Beginn von EMV-Beratungen in der Industrie
1980
EMV-Grundlagenforschung für elektronische Baugruppen (18 Patente und Gebrauchsmuster / 4 Europaanmeldungen)