Das Automobil der Zukunft soll hoch gesteckte Wünsche erfüllen. Es soll seine exakte Position lokalisieren und via Stimme, Text oder Video drahtlos kommunizieren, autonom fahren, reibungslos elektrisch funktionieren. Kaum vorstellbar, die Entwicklung von der Karre über Fuhrwerke später Motorwagen zum autonomen Vollautomat. Die Augen sind geschlossen und sich der Entspannung hingebend oder beide Hände in der Unterhaltungsabteilung - das ist modernes Fahren.
Es ist klar, dass es das nicht umsonst gibt. Hochkomplexe, hoch getaktete elektronische Systeme sollen auf kleinstem Raum neben- und miteinander arbeiten. Das stellt hohe Ansprüche an die EMV, besonders die Störfestigkeit von elektronischen Systemen mit hoch empfindlichen Mikrocontrollern. Heute sind sie es, die meist die Empfindlichkeit des gesamten elektronischen Systems bestimmen. Störbeeinflussungen, denen aufgrund ihrer hohen Flankensteilheit (ESD) gestern noch kaum Beachtung geschenkt wurde, bringen bei heutigen hohen Taktraten Systeme aus dem Rhythmus. Datenbits werden zerstört, bei sehr hohen Taktraten gleich mehrere. Mit Fehlerkorrektur kann das nicht beherrscht werden. Das elektronische System funktioniert nicht mehr wie vorgesehen. Jetzt wird es dem Passagier im Zukunfts-Automobil unbequem.
Doch auch bei hoch komplexen und sehr schnellen Systemen ist die EMV in den Griff zu bekommen. Bestenfalls werden mögliche EMV-Probleme in den ersten Phasen der Entwicklung eines elektronischen Systems beachtet. Viel Wert hat es, einen erfahrenen EMV-Berater einzubeziehen. Langwierige und kostenintensive Durchläufe im Prüflabor können damit reduziert werden. Ist das elektronische System im Prüflabor durchgefallen, beginnt oft eine langwierige Suche mit zwangsläufig längerer Entwicklungszeit und damit höheren Entwicklungskosten. Mit Normprüftechnik werden elektronische Geräte nur als Ganzes geprüft („Black Box“-Prinzip). Eine tiefer gehende Untersuchung der Störstromwege im elektronischen System und die Identifizierung tatsächlicher Schwachstellen ist kaum möglich. Oft werden deshalb nach der Methode „Trial and Error“ Filter- und Schirmmaßnahmen im Prüfling angebracht und so lange modifiziert, bis die geforderte Störfestigkeit erreicht ist. Die Fertigungskosten steigen meist beträchtlich durch die oft fehlplatzierten und dadurch überdimensionierten Filter- und Schirmmaßnahmen.
Das Entwicklungssystem Störfestigkeit (E1) ist ein ausgereiftes System für experimentelle Puls-Störfestigkeitsuntersuchungen (Burst/ESD) von elektronischen Systemen. Es ermöglicht die kleinräumige Störfestigkeitsanalyse auf einer Baugruppe. Die verschiedenen Werkzeuge des E1 ermöglichen vier Messstrategien, mit denen die kompliziertesten Störfestigkeitsfehler von Elektronikentwicklungen verschiedenster Branchen/ Bereiche aufgeklärt werden können. Entscheidend für das Lokalisieren von Schwachstellen ist die selektive Einspeisung von Störstrom in einzelne Abschnitte (Störstromwege mit dem Burstgenerator/Impulsdichtezähler SGZ 21) und das Beaufschlagen ausgewählter Gebiete der Baugruppenoberfläche mit elektrischem (E-Feld) oder magnetischen Pulsfeldern (H-Feld z.B. Magnetfeldquelle BS 04 DB). Gleichzeitig können während der Beaufschlagung mit Pulsstörungen eine rückwirkungsfreie LWL-Signalüberwachung (Sensor S31) und die Analyse der Störstromwege durchgeführt werden. Das Einkreisen der Fehler erfolgt in systematischen Schritten.
Das E1 ist auf die Entwicklungsbegleitung zugeschnittenen. Der Entwickler kann an seinem Arbeitsplatz elektronische Systeme/Baugruppen entstören oder weiter härten, indem er die direkten Ursachen von Störfestigkeitsproblemen aufklären und Gegenmaßnahmen in ihrer Wirkung direkt testen kann.