XFS, passiv, 30 MHz bis 6 GHz
Die Länge des Sondenschaftes ist speziell für den Einsatz handelsüblichen Positioniersystemen angepasst. Der Sondenkopf und seine Funktionalität entsprechen den normalen XF-Sonden.
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XFS-R 3-1
Scannersonde 30 MHz bis 6 GHz
Die Scannersonde XFS-R 3-1 dient der Messung von HF-Magnetfeldern mit hoher Auflösung auf der Baugruppe, z.B. im Bereich um Pins und Gehäuse von ICs, Leiterzügen Stützkondensatoren und EMV-Bauelementen.
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XFS-B 3-1
Scannersonde 30 MHz bis 6 GHz
Die Messspule der Magnetfeldscannersonde XFS-B 3-1 ist orthogonal zum Sondenschaft angeordnet. Beim senkrechten Aufsetzen des Sondenkopfes liegt die Messspule direkt auf der Oberfläche der Flachbaugruppe. Dies ermöglicht den Einsatz an besonders schwer zugänglichen Stellen auf der Oberfläche von Lei…
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XFS-E 10
Scannersonde 30 MHz bis 6 GHz
Die Elektrode in der Unterseite des Sondenkopfes der Scannersonde XFS-E 10 ist ca. 0,2 mm breit. Damit können kleinste E-Feldquellen lokalisiert werden, z.B. 0,1 mm breite Leiterzüge, einzelne IC-Pins an hochpoligen ICs. Zur Messung wird die E-Feldsonde auf das Messobjekt aufgesetzt.
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XFS-E 09s
Scannersonde 30 MHz bis 6 GHz
Die Elektrode am Sondenkopf der Scannersonde XFS-E 09s erfasst elektrische Felder, die z. B. oberhalb der IC-Oberfläche ausgekoppelt sind. Die Auflösung der Sonde ermöglicht Messungen in einem Abstand von 0,5 mm bis 10 mm über einer Baugruppe. Zur Messung wird die E-Feldsonde auf das Messobjekt aufgesetzt.