Zum Produkt: P331-2 set - ESD-Pulseinkopplung IEC 61000-4-2

Zusammenfassung

Das Leben als integrierter Schaltkreis ist hart: elektrische und magnetische Störfelder von benachbarten Bauteilen und von anderen Geräten gefährden seine Funktion.Daher muss jeder Schaltkreis einem EMV-Test standhalten, bevor er in die Praxis darf.
Besteht er den Test, ist alles gut. Doch fällt er durch, dann beginnt eine mühsame Fehlersuche.Zur Fehlersuche wird heute der Störimpuls eines ESD-Generators benutzt.

Jeder ESD-Generator sendet aber auch ungewollte elektrische und magnetische Störfelder aus. Die Störfelder ändern sich, wenn die Pistole gedreht oder geneigt wird. Diese Felder stören den IC zusätzlich.Ein ESD-Test mit einem herkömmlichen ESD-Generator ist nicht reproduzierbar und für die genaue Fehlersuche ungeeignet.
Der ESD-Generator „P331-2“ der Langer EMV-Technik ist frei von ungewollten elektrischen und magnetischen Störfeldern. ESD-Tests mit der P331-2 sind punktgenau und eindeutig reproduzierbar.

Die P331-2 ist so klein und geschirmt, dass jeder einzelne IC-Pin sicher getestet werden kann.
Den Test-IC setzen wir auf das TestBoard.
Mit einer Fläche von 10x10cm bietet der Ground Adapter genügend Platz für jeden IC.
Die GroundPlane stellt ein einheitliches Bezugspotential für den „Generator P331-2“ und den Test-IC her.In die Groundplane ist das ConnectionBoard integriert.Hier stehen Schnittstellen zur Verfügung, um den Test-IC mit Strom und komplexen Signalen zu versorgen.Außerdem können Testergebnisse des ICs ausgelesen werden.Zur direkten IC-Überwachung befinden sich auf dem Connection-Board drei LEDs.
Zum Testaufbau gehört die Burst Power Station.Sie versorgt den „Generator P331-2“ mit Spannung und Steuersignalen.Mit der Software „BPS 203-Client“ stellt man

• die Spannung
• die Impulswiederholfrequenz
• die Polarität des ESD-Impulses ein

Der Impuls des ESD-Generators P331-2 kann in den IC

• über einen Vorwiderstand eingespeist werden
• über ein Koppelnetzwerk
• Oder, wie in unserem Beispiel direkt über den IC-Pin

Mit dem Oszilloskoptastkopf wird ein Signal des ICs überwacht. Nun wird der IC mit einem Störimpuls beaufschlagt.Wir erhöhen hier schrittweise die Spannung des ESD-Impulses.Wir sehen, dass der IC bei einer Spannung von 1,5kV ausfällt. Mit der Probe P331-2 und dem IC-Testsystem lassen ich ESD-Tests an ICs rückwirkungsfrei durchführen.

Die Langer EMV-Technik bietet weitere Testsysteme für umfassende EMV-Tests an IC´s an.

Zum Produkt: P331-2 set - ESD-Pulseinkopplung IEC 61000-4-2