E1 set
Entwicklungssystem Störfestigkeit
Kurzbeschreibung
Das E1 ist ein System von EMV-Werkzeugen zur entwicklungsbegleitenden Entstörung von Baugruppen und Geräten. Es dient dem exakten und schnellen Auffinden von Ursachen (Schwachstellen) für Burst- als auch ESD-Störungen. Der Entwickler hat mit dem E1 die Möglichkeit, EMV-Maßnahmen genau zur Schwachstelle passend auszuwählen und zu dimensionieren. EMV-Maßnahmen können mit dem E1 in ihrer Wirkung geprüft werden. Der Prüfaufbau mit dem E1 ist klein und passt auf den Arbeitsplatz des Elektronikentwicklers.
Im Benutzerhandbuch E1 sind EMV-Wirkmechanismen und grundlegende Messstrategien zur Entstörung von Flachbaugruppen ausführlich beschrieben. Im Set E1 ist ein Generator zur Erzeugung von Burst- und ESD-Störungen enthalten.
Lieferumfang
- 1x SGZ 21, Burstgenerator
- 1x S21, Optischer Sensor (10 Mbps)
- 1x BS 02, Magnetfeldquelle
- 1x BS 04DB, Magnetfeldquelle
- 1x BS 05D, Magnetfeldquelle
- 1x BS 05DU, Magnetfeldquelle
- 1x ES 00, E-Feldquelle
- 1x ES 01, E-Feldquelle
- 1x ES 02, E-Feldquelle
- 1x ES 05D, E-Feldquelle
- 1x ES 08D, E-Feldquelle
- 1x MS 02, Magnetfeldsonde
- 1x E1 acc, Zubehör
- 1x NT FRI EU, Steckernetzteil
- 1x E1 case, Systemkoffer
- 1x E1 m, Benutzerhandbuch E1 Set
Empfohlene Produkte
Technische Parameter
Lieferumfang Details
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SGZ 21
Burstgenerator
Der Burstgenerator SGZ 21 erzeugt potentialfreie, pulsförmige Störgrößen. Seine Ausgänge sind symmetrisch und galvanisch getrennt. Mit dem SGZ 21 kann partiell in Konstruktionsteile, Kabel, Schirmungen, Erdverbindungen; direkt in Baugruppen oder indirekt über Feldquellen in einen Prüfling eingekoppe…
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S21
Optischer Sensor (10 Mbps)
Der Sensor S21 ist ein digitaler Tastkopf zur rückwirkungsfreien Übertragung von digitalen Signalen aus dem Prüfling während Burstprüfungen. Er wird direkt auf einer Leiterkarte des Prüflings befestigt und vom Prüfling versorgt. Das digitale Signal wird im Sensor in ein optisches Signal gewandelt un…
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BS 02
Magnetfeldquelle
Die Magnetfeldquelle BS 02 dient der Lokalisierung von Schwachstellen im Layout. Sie erzeugt ein B-Feld von ca. 5 cm Durchmesser. Sie eignet sich zur großflächigen Beaufschlagung von Gehäuseoberflächen und Innenbereichen, Verbindungstechnik und Baugruppen mit Leiterzugstrukturen und ICs zur Erkennun…
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BS 04DB
Magnetfeldquelle
BS 04DB generiert ein B-Feld im Millimeterbereich und dient besonders zur Lokalisierung von kritischen Leiterzugabschnitten, Bauteilen und Bauteilanschlüssen. Das aus dem Kopf der Feldquelle austretende Feld wird über die Oberfläche des Prüflings geführt.
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BS 05D
Magnetfeldquelle
Die BS 05D erzeugt ein B-Feld von > 3 mm Durchmesser. Die Feldlinien verlaufen 90° zum Feldquellenschaft. Damit eignet sich die Feldquelle besonders zur Lokalisierung von Schwachstellen zwischen zwei Flachbaugruppen und in schwer zugänglichen Bereichen von Baugruppen z. B. zwischen Bauteilen. Vor An…
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BS 05DU
Magnetfeldquelle
Die BS 05DU erzeugt ein Magnetfeld im Millimeterbereich. Sie arbeitet nach dem Prinzip einer Koppelzange und wird zur selektiven Einkopplung von Störstrom in einzelne Leiterzüge, IC-Pins, SMD-Bauelemente und dünne Leitungen (Flachbandkabel) eingesetzt.
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ES 00
E-Feldquelle
Mit der ES 00 sind großflächige (150 cm²) oder mit der Kante des Feldquellenkopfes auch linienförmige elektrische Einkopplungen möglich. E-Feld sensible Schwachstellen erstrecken sich oftmals flächenhaft über 10 bis 15 cm (LCD-Display, Bussysteme). Großflächige Feldquellen wie die ES 00 spüren derar…
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ES 01
E-Feldquelle
Die Feldquelle eignet sich zum Beaufschlagen von flächen- oder linienförmigen Schwachstellen im Bereich von 5 bis 10 cm Ausdehnung und ordnet sich zwischen die Feldquelle ES 02 und ES 00 ein. Die ES 01 eignet sich auch zur Einkopplung von Störstrom in die Baugruppe.
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ES 02
E-Feldquelle
Die Fläche des Feldquellenkopfes ermöglicht das großflächige Einkoppeln in Gehäuseoberflächen und Innenbereiche, Verbindungstechnik und Baugruppen mit Leiterzugstrukturen und ICs (z.B. Bussysteme, LCD-Displays). Des Weiteren kann sie mit ihrer Spitze zum Lokalisieren E-Feld-sensibler kleiner Schwach…
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ES 05D
E-Feldquelle
Die E-Feldquelle besitzt eine schmale linienförmige Auskoppelelektrode im Feldquellenkopf. Sie ist deshalb zum Aufsetzen auf Leiterzüge und kleine Bauteile und deren Anschlüsse, Drähte und einzelne SMD-Bauelemente wie Widerstände und Kondensatoren geeignet. Einzelne Steckerkontakte oder Adern von Fl…
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ES 08D
E-Feldquelle
Die E-Feldquelle ES 08D ist eine Tastspitze zur Bestimmung der Empfindlichkeit eines IC-Pins oder einer Leitung. Zur Prüfung wird die Tastspitze mit dem Pin/Leiterzug kontaktiert und durch Änderung der Intensität der Burstimpulse am SGZ 21 die Empfindlichkeit des Pins ermittelt.
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MS 02
Magnetfeldsonde
Die Magnetfeldsonde dient zum Messen von Burst-Magnetfeldern im Prüfling. Damit können die Wege des Störstromes ermittelt werden. Sie wird mit dem SGZ 21 angewendet.