• Kontakt
  • Karriere
  • AGB
  • Zahlungsformular
  • DE
  • EN
  • CN

Black cat logo Langer EMV-Technik

  • Über uns
    • Firma
      • Karriere
      • AGB
      • Firmenprofil
      • Meilensteine
    • Distributoren
      • Asien
      • Europa
      • Nord Amerika
    • Kontakt
    • Anfahrt
    • Förderungen
    • Veranstaltungen
    • Zahlungsformular
  • Produkte
    • PCB-Störfestigkeit
      • Entwicklungssystem Störfestigkeit
      • Mini - Burstfeldgeneratoren
      • Zubehör EFT/Burst Generatoren IEC 61000-4-4
      • Optische Signalübertragung
      • Burstdetektor
    • PCB-Störaussendung
      • Entwicklungsbegleitende Messtechnik
      • Nahfeldsonden
      • Vorverstärker
      • Nahfeldmikrosonden
      • Optische Signalübertragung
    • IC Test System
      • IC Testumgebung
      • Störaussendung
      • Störfestigkeit
      • Simulation
    • IC Sicherheit
      • Fault Injection
      • Seitenkanalanalyse
      • Positioniersysteme
    • Positioniersysteme
      • Langer Scanner
      • Zubehör für Langer Scanner
      • Nahfeld-Scannersonden
    • Software
      • CS-Scanner, Software ChipScan-Scanner / USB
      • CS-ESA set, Software ChipScan-ESA / USB
    • Mess- und Kalibrierplätze
      • PCB
      • IC
      • Steckverbinder
    • Messtechnik für Lehre und Ausbildung
      • EMC-Basic 1 set, Demonstrationsboards Mini-Burstfeldgeneratoren
      • EMC-Basic 2 set, Demonstrationsboards Nahfeldsonden
      • DB 20 set, Demo Board 20
      • D10 set, EMV Demonstrationselektronik
  • Seminare
    • SF-GE, EMV Experimentalseminar Störfestigkeit Grundlagen & Entstörung (3 Tage)
    • SF-G, EMV Experimentalseminar Störfestigkeit - Grundlagen (2 Tage)
    • SA-GE, EMV Experimentalseminar Störaussendung Grundlagen & Entstörung (3 Tage)
    • SA-G, EMV Experimentalseminar Störaussendung - Grundlagen (2 Tage)
    • SF IHS, EMV Inhouseseminar Störfestigkeit 3 Tage
    • SA IHS, EMV Inhouseseminar Störaussendung 2 Tage
    • Terminübersicht
  • Dienstleistungen
    • EMV Workshops
      • WS ESA1, Workshop Entwicklungssystem Störaussendung
      • WS IC, Workshop EMV für integrierte Schaltkreise
      • WS PCB, Workshop Entwicklungsbegleitende EMV Störaussendung und Störfestigkeit
      • WS Scanner, Workshop zu Langer Scannern
    • IC-EMV Analyse
      • Störaussendung
      • Störfestigkeit
    • EMV Analyse
      • SMM Langer, Messung der elektromagnetischen Abschirmung nach dem Langer-Verfahren
      • COCI, Messung der Koppelinduktivität von Steckverbindern und Kabeln
    • EMV-B, EMV-Beratung und Elektronikentstörung
  • EMV-Wissen
    • Fachartikel Board-EMV
      • Basiswissen
      • Störfestigkeit
      • Störaussendung
    • Fachartikel IC-EMV
      • Basiswissen
      • Störfestigkeit
      • Störaussendung
    • Langer EMV-Technik in der wissenschaftlichen Forschung
    • Newsletter
      • 17 ESA1 set
      • 16 ICI-DP sets
      • 15 Schirmzelt und GP 23 set
      • 14 Mini-Burstfeldgeneratoren im Westentaschenformat
      • 13 Störfestigkeit EMV Schwachstellensuche:
      • 12 ICR: Nahfeldanalyse im Mikrometerbereich und ihre Vorteile
      • 11 ChipScan-ESA unterstützt nun mehr Messgeräte
      • 10 P512 und DPI
      • 09 Surface Scan on IC Level with high Resolution
      • 08 ESD und effizientes elektronisches Design
      • 07 EMV-Messtechnik zur Prüfung integrierter Schaltungen - Eine Einführung
      • 06 Messung der Schirmdämpfung auf IC-Ebene mit dem IC-Testsystem P1402/P1502
      • 05 Zeit- und Kostenersparnis bei der Aufnahme und Dokumentation von HF-Messungen mit Spektrumanalysatoren
      • 04 Strahlungsgebundene Störaussendung von PCB-Ebene - Eine Einführung
      • 03 Entstörung eines mit PWM betriebenen Gleichstrommotors
      • 02 XF Nahfeldsonden und LVDS Entstörung
      • 01 MFA Mikrosonden und LVDS Entstörung
    • Videos
      • Produktanwendung
      • EMV Webinar
  • PCB-Störfestigkeit
    • Entwicklungssystem Störfestigkeit
      • E1 setEntwicklungssystem Störfestigkeit
      • S2 setMagnetfeldsonden für E1
    • Mini - Burstfeldgeneratoren
    • Zubehör EFT/Burst Generatoren IEC 61000-4-4
    • Optische Signalübertragung
    • Burstdetektor
  • PCB-Störaussendung
  • IC Test System
  • IC Sicherheit
  • Positioniersysteme
  • Software
  • Mess- und Kalibrierplätze
  • Messtechnik für Lehre und Ausbildung
  • Produkte
  • PCB-Störfestigkeit
  • Entwicklungssystem Störfestigkeit
  • E1 set, Entwicklungssystem Störfestigkeit
  • BS 04DB, Magnetfeldquelle

BS 04DB

Magnetfeldquelle

  • Kurzbeschreibung
  • Technische Parameter
Anfrage senden Datenblatt
  • BS 04DB, Magnetfeldquelle
  • Anwendung BS 04DB
    Anwendung BS 04DB
BS 04DB, Magnetfeldquelle Anwendung BS 04DB
  • BS 04DB, Magnetfeldquelle
  • Anwendung BS 04DB
Kurzbeschreibung

BS 04DB generiert ein B-Feld im Millimeterbereich und dient besonders zur Lokalisierung von kritischen Leiterzugabschnitten, Bauteilen und Bauteilanschlüssen. Das aus dem Kopf der Feldquelle austretende Feld wird über die Oberfläche des Prüflings geführt.

Technische Parameter
Messprinzip Messprinzip Messprinzip
  • © Langer EMV-Technik
  • Kontakt
  • Impressum
  • Datenschutzerklärung
  • Förderungen
  • facebook
  • YouTube
  • Linked-In
  • Twitter
Europäischer Fonds für regionale Entwicklung EFRE - Europäischer Sozialfonds ESF