• Kontakt
  • Karriere
  • AGB
  • Zahlungsformular
  • DE
  • EN
  • CN

Black cat logo Langer EMV-Technik

  • Über uns
    • Firma
      • Karriere
      • AGB
      • Firmenprofil
      • Meilensteine
    • Distributoren
      • Asien
      • Europa
      • Nord Amerika
    • Kontakt
    • Anfahrt
    • Förderungen
    • Veranstaltungen
    • Zahlungsformular
  • Produkte
    • PCB-Störfestigkeit
      • Entwicklungssystem Störfestigkeit
      • Mini - Burstfeldgeneratoren
      • Zubehör EFT/Burst Generatoren IEC 61000-4-4
      • Optische Signalübertragung
      • Burstdetektor
    • PCB-Störaussendung
      • Entwicklungsbegleitende Messtechnik
      • Nahfeldsonden
      • Vorverstärker
      • Nahfeldmikrosonden
      • Optische Signalübertragung
    • IC Test System
      • IC Testumgebung
      • Störaussendung
      • Störfestigkeit
      • Simulation
    • IC Sicherheit
      • Fault Injection
      • Seitenkanalanalyse
      • Positioniersysteme
    • Positioniersysteme
      • Langer Scanner
      • Zubehör für Langer Scanner
      • Nahfeld-Scannersonden
    • Software
      • CS-Scanner, Software ChipScan-Scanner / USB
      • CS-ESA set, Software ChipScan-ESA / USB
    • Mess- und Kalibrierplätze
      • PCB
      • IC
      • Steckverbinder
    • Messtechnik für Lehre und Ausbildung
      • EMC-Basic 1 set, Demonstrationsboards Mini-Burstfeldgeneratoren
      • EMC-Basic 2 set, Demonstrationsboards Nahfeldsonden
      • DB 20 set, Demo Board 20
      • D10 set, EMV Demonstrationselektronik
  • Seminare
    • SF-GE, EMV Experimentalseminar Störfestigkeit Grundlagen & Entstörung (3 Tage)
    • SF-G, EMV Experimentalseminar Störfestigkeit - Grundlagen (2 Tage)
    • SA-GE, EMV Experimentalseminar Störaussendung Grundlagen & Entstörung (3 Tage)
    • SA-G, EMV Experimentalseminar Störaussendung - Grundlagen (2 Tage)
    • SF IHS, EMV Inhouseseminar Störfestigkeit 3 Tage
    • SA IHS, EMV Inhouseseminar Störaussendung 2 Tage
    • Terminübersicht
  • Dienstleistungen
    • EMV Workshops
      • WS ESA1, Workshop Entwicklungssystem Störaussendung
      • WS IC, Workshop EMV für integrierte Schaltkreise
      • WS PCB, Workshop Entwicklungsbegleitende EMV Störaussendung und Störfestigkeit
      • WS Scanner, Workshop zu Langer Scannern
    • IC-EMV Analyse
      • Störaussendung
      • Störfestigkeit
    • EMV Analyse
      • SMM Langer, Messung der elektromagnetischen Abschirmung nach dem Langer-Verfahren
      • COCI, Messung der Koppelinduktivität von Steckverbindern und Kabeln
    • EMV-B, EMV-Beratung und Elektronikentstörung
  • EMV-Wissen
    • Fachartikel Board-EMV
      • Basiswissen
      • Störfestigkeit
      • Störaussendung
    • Fachartikel IC-EMV
      • Basiswissen
      • Störfestigkeit
      • Störaussendung
    • Langer EMV-Technik in der wissenschaftlichen Forschung
    • Newsletter
      • 17 ESA1 set
      • 16 ICI-DP sets
      • 15 Schirmzelt und GP 23 set
      • 14 Mini-Burstfeldgeneratoren im Westentaschenformat
      • 13 Störfestigkeit EMV Schwachstellensuche:
      • 12 ICR: Nahfeldanalyse im Mikrometerbereich und ihre Vorteile
      • 11 ChipScan-ESA unterstützt nun mehr Messgeräte
      • 10 P512 und DPI
      • 09 Surface Scan on IC Level with high Resolution
      • 08 ESD und effizientes elektronisches Design
      • 07 EMV-Messtechnik zur Prüfung integrierter Schaltungen - Eine Einführung
      • 06 Messung der Schirmdämpfung auf IC-Ebene mit dem IC-Testsystem P1402/P1502
      • 05 Zeit- und Kostenersparnis bei der Aufnahme und Dokumentation von HF-Messungen mit Spektrumanalysatoren
      • 04 Strahlungsgebundene Störaussendung von PCB-Ebene - Eine Einführung
      • 03 Entstörung eines mit PWM betriebenen Gleichstrommotors
      • 02 XF Nahfeldsonden und LVDS Entstörung
      • 01 MFA Mikrosonden und LVDS Entstörung
    • Videos
      • Produktanwendung
      • EMV Webinar
  • PCB-Störfestigkeit
    • Entwicklungssystem Störfestigkeit
    • Mini - Burstfeldgeneratoren
    • Zubehör EFT/Burst Generatoren IEC 61000-4-4
    • Optische Signalübertragung
      • Analog
      • Digital
        • OSE 150-1 setTastkopf 1-kanalig, 50 Mbps
        • OSE 150-2 setTastkopf 2-kanalig, 50 Mbps
        • OSE 450 setTastkopf 4-kanalig, 50 Mbps
      • Bussysteme
    • Burstdetektor
  • PCB-Störaussendung
  • IC Test System
  • IC Sicherheit
  • Positioniersysteme
  • Software
  • Mess- und Kalibrierplätze
  • Messtechnik für Lehre und Ausbildung
  • Produkte
  • PCB-Störfestigkeit
  • Optische Signalübertragung
  • Digital
  • OSE 150-1 set, Tastkopf 1-kanalig, 50 Mbps
  • S25, Optischer Sensor (50 Mbps)

S25

Optischer Sensor (50 Mbps)

  • Kurzbeschreibung
  • Technische Parameter
Anfrage senden Datenblatt
  • S25, Optischer Sensor (50 Mbps)
  • Anwendung mit Sensor S25
    Anwendung mit Sensor S25
S25, Optischer Sensor (50 Mbps) Anwendung mit Sensor S25
  • S25, Optischer Sensor (50 Mbps)
  • Anwendung mit Sensor S25
Kurzbeschreibung

Der Sensor S25 ist ein digitaler Tastkopf zur rückwirkungsfreien Übertragung von digitalen Signalen aus dem Prüfling während Burstprüfungen. Er wird direkt auf einer Leiterkarte des Prüflings befestigt und vom Prüfling versorgt. Das digitale Signal wird im Sensor in ein optisches Signal gewandelt und über LWL an einen Empfänger/Oszilloskop übertragen.

Durch die Signalübertragung über Lichtwellenleiter wird die Testumgebung des Prüflings nicht verändert. Durch das Erfassen von Signalen aus dem Prüfling können seine korrekte Funktion überwacht und gestörte Signale sofort erkannt werden.

Technische Parameter
Übertragungsbereich DC ... 50 Mbps
LWL-Anschluss Ø 2.2 mm
Versorgung 3 V ... 5 V
Stromaufnahme 30 mA
Maße (L x B x H) (34 x 10 x 6) mm
  • © Langer EMV-Technik
  • Kontakt
  • Impressum
  • Datenschutzerklärung
  • Förderungen
  • facebook
  • YouTube
  • Linked-In
  • Twitter
Europäischer Fonds für regionale Entwicklung EFRE - Europäischer Sozialfonds ESF