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ICEM Scan

Messdienstleistung Surface Scan nach IEC/TS 61967-3

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Kurzbeschreibung

Bei der Messdienstleistung ICEM Scan wird ein Prüfverfahren nach Norm IEC/TS 61967-3 angewendet. Bei diesem Prüfverfahren werden die elektrischen oder magnetischen Nahfeldkomponenten auf oder nahe der Oberfläche eines IC gemessen. Dieses Diagnoseverfahren dient der Architekturanalyse eines IC wie beispielsweise der Fertigungsplanung und der Optimierung der Stromverteilung. Dieses Prüfverfahren ist für Messungen eines IC anwendbar, der auf einer Leiterplatte in Funktion angebracht ist, die für die Abtastsonde zugänglich ist.

Oberflächenscan eines IC mit Nahfeldmikrosonde
Vorteil der Messungen mit Nahfeldmikrosonden

Bei der Störaussendungsmessung mit den Nahfeldmikrosonden der Langer EMV-Technik GmbH werden das magnetische und elektrische Feld getrennt voneinander gemessen. Durch die kleinen Sonden verbunden mit einer hohen Sensitivität kann eine Auflösung bis zu 60 µm im Frequenzbereich bis zu 6 GHz realisiert werden.

Was wird vom Kunden benötigt?
  • Datenblatt des IC
  • Test-Schaltplan (in Abstimmung mit Testingenieur)
  • Test-Firmware mit Beschreibung (in Abstimmung mit Testingenieur)
  • 1 - 2 ICs mit Test-Firmware
Was bekommt der Kunde?
  • 5 Testleiterkarten, bestückt/unbestückt, je nach Anzahl der Test-ICs
  • Dokumentation der Messergebnisse mit der Software ChipScan-Scanner
  • Testbericht

Die Erstellung eines Angebots hängt von der genauen Messaufgabe (z.B. Größe des Scan-Bereiches, Anzahl der Messpunkte, Frequenzbereich) des Kunden ab. Bitte setzen Sie sich mit dem Vertrieb der Langer EMV-Technik GmbH in Verbindung.