Das SX-R 20-1 set enthält eine passive Nahfeldsonde zur entwicklungsbegleitenden Messung von hochfrequentem Magnetfeld bis 20 GHz. Der Sondenkopf der SX-R 20-1 ermöglicht Messungen dicht auf der Elektronikbaugruppe z.B an einzelnen IC-Pins, Leiterzügen, Bauteilen und deren Anschlüssen zur Lokalisierung von Störaussendungsquellen. Die Feldorientierung und Feldverteilung auf der Elektronikbaugruppe können durch entsprechende Führung der Nahfeldsonde ermittelt werden. Die Nahfeldsonde ist klein und handlich. Sie besitzt eine Mantelstromdämpfung und ist elektrisch geschirmt.
Die Nahfeldsonde wird an einen Spektrumanalysator oder ein Oszilloskop mit 50 Ω Eingang angeschlossen.