IC Sicherheit
Mit den Produkten für IC-Sicherheit können ICs mittels elektromagnetischer Seitenkanalanalyse (SCA) detailliert analysiert und mit elektromagnetischen Störpulsen gezielt in Ihrem Funktionsablauf gestört werden (EMFI).
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Fault Injection
Die ICI und ICI-DP Probes ermöglichen die Einkopplung schneller, transienter magnetischer oder elektrischer Felder sowie von Stromimpulsen in ICs. Sie sind für die elektromagnetische Fault Injektion (EMFI) oder Body-Bias-Injektion (BBI) vorgesehen.
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Seitenkanalanalyse
Die Nahfeldmikrosonden sind einsetzbar für entwicklungsbegleitende E- und H-Feldmessungen im Frequenzbereich von 0,5 MHz bis 6 GHz mit einer Auflösung von 60 µm bis 300 µm.
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Positioniersysteme
Automatisierte Positioniersysteme (IC Scanner) für IC-Injektion Probes (ICI und ICI-DP) und Nahfeldmikrosonden (ICR) von Langer EMV-Technik GmbH.