Die Doppelpuls-Magnetfeldquelle ICI-DP HH250-15 ist eine Probe mit der schnelle transiente Magnetfeldpulse in DUTs z.B. IC’s eingekoppelt werden können. Sie ist für EM-Fault Injection (EMFI) in IC-Sicherheitsanwendungen entwickelt worden. Mit dieser Probe lassen sich sowohl einzelne Störpulse als auch eine Doppelpulsfolge mit einer Pulsfolgezeit von minimal 25 ns zeitlich und örtlich präzise in integrierte Schaltkreise einkoppeln.

Über die “sync”-Eingänge können Einzelstörimpulse oder Doppelpulse synchronisiert in den Funktionsablauf des Testobjektes (DUT) eingekoppelt werden. Die Probe wird über die Burst Power Station BPS 204 gespeist und gesteuert.