Wenn der Prüfling den EMV-Test nicht besteht

Besteht ein Prüfling den EMV-Test im Prüflabor nicht, muss anschließend am Arbeitsplatz des Entwicklers Ursachenforschung betrieben werden. Meist ergeben sich dabei Änderungen am Prüfling, die zunächst erarbeitet und nachher auf ihre Wirksamkeit hin geprüft werden müssen. Dafür sind viele Messungen …

ESD Entstörung von Mikrocontrollern auf Board Ebene

Potentielle EMV-Probleme von Mikrocontrollern in der Praxis werden durch entsprechende EMV-Prüfungen aufgedeckt. Ein besonderes Problem für Schaltungen mit Mikrocontrollern sind ESD-Entladungen. In der Praxis können sie auf vielfältige Art und Weise erzeugt werden.

Effektive Strategien zur Störfestigkeitsanalyse auf Board-Ebene

Immer häufiger bestehen komplexe Geräte mit integrierten Schaltkreisen und niedriger Versorgungsspannung nicht die Störfestigkeitsprüfung. Die Suche und Beseitigung der Schwachstellen stellt in solchen komplexen Geräten meist eine große Herausforderung dar. Für eine schnelle, gezielte und damit kost…

Die Puls-Störfestigkeit von elektronischen Baugruppen direkt und rückwirkungsfrei ermitteln - EMV-Maßnahmen gezielt optimieren

Mehr Effizienz bei der Baugruppenentstörung

In den letzten Jahren wurde das Erreichen der EMV- Ziele bei der Geräte- oder Komponentenentwicklung immer schwieriger. Das trifft vor allem zu, wenn moderne hochintegrierte ICs verwendet werden.

ESD-Störfestigkeit eines Mikrocontroller gestützten Messsystems

Es werden Probleme beschrieben, die unter ESD-Einfluss an einem Mikrocontrollerboard auftreten. Das Mikrocontrollerboard besitzt ein System zur Laufzeitausmessung. Laufzeitmesssysteme können in Abstandsmesssystemen mit Radar, Licht oder Ultraschall sein.